影响X射线测厚仪测量精因素分析
X射线测厚仪是通过向X射线源施加高压电源,产生X射线,X射线穿透被测量物体时其强度衰减量来测量物体厚度。由于X射线测厚仪在断电后不存在任何放射线,避免了对环境的影响和对人体的危害,使用和维护更加安全。与同位素式测厚仪相比较,X射线测厚仪更加绿色和环保,同时也可免除使用同位素带来的复杂审批程序和高额管理成本。因此 ,X射线测厚仪广泛被使用在有色冶金的板带材生产中。
影响X射线测厚仪测量精度值的因素：
1.高压控制箱对测量精度的影响
高压控制箱的安装位置一般有两种:一种是高压控制箱安装在C型架以外的固定位置,这种安装方式对高压控制箱保护较好,但需要长长的高压电缆,要时常注意高压电缆的磨损或老化情况;另一种方式是把高压控制箱放在C型架内,这种方式高压控制箱由于长时间振动,控制接线易松动,会导致信号不稳定,这种故障出现时测量厚度忽高忽低,波动较明显,严重时标准化直接做不了。对松动线头做紧固处理问题就会解决。
2.测头不稳定对测量精度的影响
测头不稳定对测量厚度会偏厚或偏薄,查找这种问题一般比较直观,观察X射线灯管的电压和电流波动情况,在X射线灯管的电压和电流稳定的情况下,把X射线C型架停在一个固定位置,消除其他的外界振动干扰。在测定一固定的板材或内部样片,观察其反馈电压及电流的波动值,持续30min,一般正常电流波动会在0.01mA～0.04mA,电压会在0.5kV以内,超出这个范围一般是测头出问题,处理时需更换一新测头。
