X射线镀层测厚仪技术分析
为满足冷轧镀锌线的告诉和自动化生产要求，我们会使用X射线荧光测量法来稳定快速的测量带钢表面的镀层厚度，下面我们来分析一下X射线测厚仪的技术原理。
X射线镀层测厚仪的工作原理
X 射线荧光测量的原理反映出，镀层被激发区的特征 x 射线的强度与镀层和涂层元素含量多少成正比。在被激发区，镀层在一定的测量区域内的含量和层元素的分比是固定的，因为该范围内测量所得的 x 荧光强度和镀层以及涂层的厚度是成固定正比例的，镀层和涂层的厚度在一定厚度范围内和激发区的特征 x 荧光的强度具有正比例关系，所以只要测得该范围内 x 荧光强度值，那么就可以计算得出镀层和涂层的厚度。
反射荧光的发生与信号采集的工作原理
原子和周围在通常情况下都会围绕一定数量的核外电子，电子会根据自身能量的不同在不同高度的圆周轨道围绕原子核进行运动。电子的层数越高离原子核也就越远，拥有的势能也就越大。当外界射线（ x 射线或 y 射线）将 K 层轨道上的一个电子照射集中之后，如果外界射线的能量够大，那么这个电子将会离开自己本来的运动轨道并脱离原子核的约束而"溢出"。这样的话溢出电子的本来位置就成为一个空穴，而较它高一能量层的 L 层的电子将会补充到 K 层的空穴。因为外层电子比内层的势能要高，那么根据能量守恒定律，电子在这个过程中会释放出一个以光子为单位的能量 X ( K - alpha )．这就是荧光。荧光的波长也就是所释放出的能量的大小要看两层轨道之间的能量差来决定。不同的元素会产生不同的荧光，所以可以通过荧光的强度或者特定的波长来鉴定纯金属镀层的厚度。
电离作用
瑞清科技X射线测厚仪的电离室为一密封的容器，两边有电极，在期内充满惰性气体（如氙 Xe )．并在电极两端分别加上正负高压。当被测物质的 x 射线荧光进入电离室内，会使电离室内的惰性气体产生正负离子对，在高压电场的作用下，正、负离子分别向负高压和正高压移动，从而在两极之间产生微安级的微电流，其大小同射入的射线强度成正比。电流信号由放大器放大并转换为电压信号，经高精度 A / D 转换进入计算机，与计算机内储存的参考曲线对后得出测量值。
瑞清公司开发的XTC-100PTC型涂层测厚仪，采用X射线装置激发试样的X射线荧光辐射，可以高精度，高速度非接触式测量带钢上金属镀层厚度，实现涂装生产线（如镀锌板等）的在线检测和实时控制，为高质低耗生产提供技术助力。瑞清公司涂层测厚仪系列可以测量锌、锡、铬等各种涂层和复合涂层厚度。
产品优势：
高精度，高速度非接触式无损测量带材上金属镀层厚度
在线检测，实时控制，高质低耗生产
技术指标：
产品型号 | XTC-100PTC |
测量的镀层 | 锌、锡、铬等涂层和复合材料的涂层厚度 |
衬底（钢） | 厚度0.3-2.5 mm |
镀层重量测量范围（单面） | Zn（GI）10 g/m2-600 g/m2 55%Al/Zn（GL）10 g/m2-400 g/m2 |
扫描宽度 | 0-1200 mm，可根据生产线定制 |
平均响应时间 | 35 ms |
采样时间 | 10 ms |
再现性 | GI，普通镀层重量的±0.2％或 ±1g/m2中更高的 |
测量间距 | 约为30 mm |
推荐的校准频率 | 每8个小时 |
校准时间 | 约为180 s |
冷启动到热的时间 | 约为60 min |
总稳定性（漂移） | 4小时内为0.1％（100 g/m2） |
