XRF（X 射线荧光）技术
XRF（X 射线荧光）是一种用于测定材料中元素组成的无损分析技术。XRF 技术通过分析可样品由一级 X 射线源激发而散射出的荧光（或二级）X 射线，来确定样品的化学属性。样品中的每一种元素受激发后都会产生一组特定独特的荧光 X 射线（“指纹”），因此对于材料化学成分定量及定性分析而言，XRF 光谱法是一种非常好的技术。
X 射线荧光过程
1. 用受控 X 射线管发出的高能 X 射线照射固体或液体样品。
2. 当样品中的某个原子被能量充足（大于原子的 K 或 L 壳层结合能）的 X 射线撞击时，就会从原子的一个内轨道壳层中逐出一个电子。
3. 原子恢复稳定性，并使用来自原子更高能量轨道壳层之一的电子填补内轨道壳层的空缺。
4. 电子通过释放荧光 X 射线降至较低能量状态。该 X 射线的能量等于电子两个量子态之间的特定能量差。这种能量的测量是 XRF 分析的基础。
XRF 光谱解读
大多数原子都有几个电子轨道（例如 K 壳层、L 壳层、M 壳层）。当 X 射线能量导致电子进出这些壳层时，会产生强度不同的 XRF 峰，并且将以图表形式在光谱中显示 X 射线强度峰与能量峰的函数关系。峰能量用于识别元素，峰高度/强度通常表示其浓度。
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF)
EDXRF 是便携式 X 射线荧光分析仪中常用的技术。EDXRF 设计用于同时分析多组元素，以便快速测定样品中的相应元素及其相对浓度，换句话说，即样品的元素化学成分。
欲了解如何使用这些信息，请参考废金属。回收商需要正确识别多种合金等级，在材料转移点快速分析其化学成分，并向客户保证产品的质量。金属合金专为不可互换的特殊功能而设计；成分的微小变化就会导致明显不同的机械性能。幸运的是，手持 XRF 分析仪可以很容易地区分这些等级。
