X射线金属涂层测厚仪是一种利用X射线测量金属涂层厚度的仪器，其原理主要基于X射线的穿透性和吸收性。
X射线金属涂层测厚仪通过发射一束能量较高的X射线照射在被测金属涂层上，X射线在金属涂层中的穿透深度与X射线的能量和被测金属涂层的密度、厚度等因素有关。当X射线穿过金属涂层后，一部分X射线被吸收，另一部分X射线穿过涂层并到达检测器。
X射线金属涂层测厚仪中的检测器测量和记录X射线的强度，根据X射线的吸收规律，可以通过计算出X射线在涂层中的衰减程度，从而确定金属涂层的厚度。具体来说，测量过程中，通过对比标准样品和待测样品的测量结果，可以得到标准曲线或者标准表格，再通过对待测样品的测量结果进行比对，就可以得出待测样品的金属涂层厚度。
需要注意的是，X射线金属涂层测厚仪测量时需要注意辐射剂量的控制和防护措施，同时也需要根据被测金属涂层的特性和要求进行校准，以确保测量结果的准确性和可靠性。
