牛津X-Strata92x射线荧光（XFR）镀层测厚仪

牛津X-Strata92x射线荧光（XFR）镀层测厚仪

   牛津X-Strata92x射线荧光（XFR）镀层测厚仪结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强大、斑点小，样品激发更佳，确保同级别中精确性更好，分析结果只需要几秒钟，从而获得更很有效的过程控制和性价比。

   它工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。镀层测厚仪为行业提供了：以更有效的过程控制来提高生产力；有助电镀过程中给生产成本最小化、产量最大化；快速无损的分析珠宝及其他合金；快速分析多达4层镀层。操作也很简单。