测厚仪测量技术的发展方向

测厚仪测量技术的发展方向

随着非接触、高效率测量机的大量出现，专家预计，21世纪测厚仪测量技术的发展方向大致如下：

1.测量精度由微米级向纳米级发展，测量分辨力进一步提高;

2.由点测量向面测量过渡(即由长度的精密测量扩展至形状的精密测量)，提高整体测量精度;

3.随着图像处理等新技术的应用，遥感技术在精密测量工程中将得到推广和普及;

4.随着标准化体制的确立和测量不确定度的数值化，将有效提高测量的可靠性(电火花检漏仪)。

总之，测量技术必须实现高精度化，同时也要求实现高速化和高效率化，因此，非接触测量和高效率测量也必然成为新世纪精密测量技术的重要发展方向。