X射线测厚仪技术发展
我国的前期使用的 X 射线测厚仪大多是从国外引进，钢铁工业最早是在20世纪70年代武钢1700工程，其热连轧带钢使用的是2台日本东芝公司产品T0SGACE-306型产品，一台测量成品纵向误差．另一台是横向来回移动，测量钢带横向厚度差，都是20世纪60年代末70年代的产品，虽然它成功地用于全线自动化系统并起到保证产品质量的关键作用，但在过去还是由于产品价格高甚至在一些 AGC 系统中也没有采用。但到现在，由于科学技术的发展，采用电子计算机技术，特别是单点测量发展成多通道测量等，因此把 x 射线测厚仪推向了更高水平，得到了长足的技术进展，已成为工业控制与质量控制和在激烈市场竞争中必不可少的测量仪表。
测定方式的进步。 x 射线测厚仪测定方式有单通道式和双通道式两种。前者是对透过 x 射线的强度直接检测并将其作为厚度输出。后者是把 x 射线一分为二，一束作为检测用，射入到材料中，另﹣束作为参比用，透过伺服驱动的标准碶。把两束射线透过后的强度进行比较，求出厚度偏差。
X 射线测厚仪最主要的误差是由 X 射线强度受 X 射线管阳极电压和电流不稳定而引起的，过去认为双通道测定方式可互为补偿以消除或减弱 X 射线不稳定和两路检测系统共同不稳定因素而引起的零点漂移以及仪表灵敏度的变化，因而精度较高。故70年代中期以前，普遍采用双通道测定方式，测厚仪检测范围为0.1-16 mm ，精度为满刻度的0.5%，时间常数为0.02 s ，漂移在8h内为0.2%。但由于双通道与单通道测定方式相比，其缺点为：由于需要维持测量与设定检测器的平衡而使射线强度减小、设定精度受标准楔加工精度和设定位置精度所限制、响应性能差（单通道的时间常数小于0.01s)、构造较复杂因而价格也较贵。现在由于电子技术和控制技术等的进步，单通道方式已克服了它本身的缺点，且没有双通道测定方式的缺点，如 X 射线管由交流供电改为直流供电，阳极电压和电流的稳定度能控制在10-4~10或更高，因而可以消除或减弱 X 射线的不稳定，有些公司的产品还采用了 ACE 自动能量补偿技术，即自动提高 X 射线的强度以消除因元件老化等原因造成的系统测量精度下降；采用标准板进行标定而比标准简单，使整个结构更简单，因而现在生产的 x 射线测厚仪已全部使用单通道测定方式。
数字计算技术和微处理机的应用，使测量精度大大提高。正如上节分析那样，除 x 射线管电压、电流以外，影响测量精度因素很多，过去由于采用运算放大器、晶体管等组成的模拟式电路，因此很难把误差因素一一加以补偿，对更复杂的补偿公式更是无能为力，在合金板 中，含多种合金 ，不同合金板成分也不同，为加快测量速度，避免在线计算占用时问，通常还把不 同材质的成分进行预先计算，并把计算结果用曲线或表格形式存储于仪表的计算机合金补偿数据库中，应用时调出。对于热轧 时被测物的温度补偿也采用同样方法，由高温计测量带钢温度(对于板型仪更是使用扫描式 高温计测量 带钢横截面的温度 )，然后根据温度补偿公式计算并做成温度补偿 曲线或 表格存于仪表的数据库中。随着计算机的应用 ，还可通过 CRT友好的人机联络画面进行操作和监控，而网络通信能良好地和AGC系统以及其它计算机相连，可进行自诊断及故障报警 ，甚至监视元部件老化状态而方便维护。总之计算机的应用将大大提高仪表 的可用性 、可靠性和可维护性 。
元件技术进步与功能多样性 (一台仪表可同时测量厚度 、凸度 、板形甚至宽度和温 度 )。X射线测厚仪的核心是X射线发生器与检测器 ，其中 x射线管采用金属陶瓷管可改善靶的结构及其散热功能 ，采用提高真空度等技 术可提高效率与连续工作的寿命 ；X射线检测器主要有 电离室并采用闪烁晶体 一光电倍增管方式 。
