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X 射线测厚仪测量工作原理介绍

发布时间:2023-02-20 10:11:16人气:


 

X 射线测厚仪是一种非接触式厚度测量装置,可以实现连续实时的在线测量,是铝板带加工中广泛应用的关键检测设备。虽然国内有很多不同型号的 X 射线测厚仪,但其工作原理是一致的,主要的构成也大体相似。本文简单的介绍一下其工作原理。

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基本的测量原理

 x 射线通过某种物质时,射线强度会发生衰减,衰减的主要原因是物质对它有吸收作用,其他因素(例如:射线束不可避免地存在的散射现象)引起的衰减量匙远小于因吸收导致的衰减量。因此,可以近似地认为, x 射线通过物质后其强度的衰减是由于物质对它的吸收所造成的。射线穿过物体前后的强度呈下列关系:

 I =I0e-uh

0一入射物质前 x 射线的强度; I 一穿过物质后 x 射线的强度; h 一物质的厚度;

u一物质对 x 射线的线吸收系数,它与物质的种类、密度和 x 射线波长有关。

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检测到的 X 射线强度工与很多因素有关。其中一个最重要的因素就是入射前的射线强度I0。不同厚度的被测物体,都有一个最合适的入射 x 射线强度。如果射线强度过低,射线穿过被测物体后探头检测到的射线信号会太弱:如果射线强度过高,当被测量的物体厚度发生变化时,射线穿过被测物体后探头检测到的信号变化不明显。因此,测厚仪一般都采用计算机控制的多级 X 射线发射源,针对不同的被测厚度设定几档发射能量。

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