X射线测厚仪产生漂移的原因分析

X射线测厚仪产生漂移的原因分析

     在测量过程中，X射线测厚仪有可能随着环境的变化和时间的推移使测量结果产生漂移，产生漂移的原因有：

（1）       X射线电源不稳定产生的漂移；

（2）       测头由于密封或绝缘不好导致的漂移；

（3）       放大器不稳定产生的漂移；

（4）       电离室窗口积累的油渍太多等多种原因。

     为了防止漂移带来的误差，一般测厚仪每隔8个小时进行一次系统校验，来修正偏差，如果校验后仍不行，则需要做全标准化。