x射线测量技术介绍
x 射线传感器的射线源有两种：同位素 x 射线放射源和 x 光管。穿透式 x 射线厚度传感器遵循比尔吸收定律；反射式 x 射线传感器符合材料荧光分析技术，所以反射式 x 射线传感器也称之为 x 射线荧光分析传感器。反射式 x 射线传感器利用 x 射线击飞被测量材料的内层电子，造成被测量材料的外层电子向内层跃迁并放出 x 射线的特性，测量被测材料的厚度6。在实际应用中，同位素 x 射线放射源很少被用于穿透式传感器。 x 射线传感器在测量铝箔、塑料薄膜、薄钢板等材料的厚度时，都有广泛的应用，表1-2为穿透式 x 射线测厚仪的分类。
x 射线测量技术的有点主要表现在：
①适合测量单一元素的材料，测量单一元素材料时精度高；
②不受被测量材料颜色等影响；
③ x 光管传感器不通电时，没有放射性，运输方便；
