在生产现场影响X射线测厚仪精度的因素很多， 基本可以分为X射线测厚仪本身不稳定、待测带材成分及通过位置的变化及现场生产环境三类。
１．测头不稳定对测量精度的影响
测头不稳定会导致测量厚度偏薄或偏厚，由测头不稳定引起的测量误差一般比较直观，只需要观察Ｘ射线管的电压及电流的波动情况即可。在测头正常的情况下， 在２min－５min内一般正常电流波动在0.01mＡ－0.04ｍＡ，电压波动在0.5ｋＶ以内。在Ｘ射线管电压及管电流稳定的情况下， 消除其它外界干扰， 在测量一个已知固定厚度的板材或者将样块直接打出，若超出正常范围通常是测头出现问题，需及时更换。
２．X射线强度不稳定对测量精度的影响
造成X射线强度不稳定的因素有多种，例如紀物质、管电压、管电流等，这三种影响因素都是直接影响产生X射线的性质。
1 、靶物质的影响，连续X射线的强度与ＩＥ物质的原子序数成正比， 在管电流与管电压都相同的情况下，阳极紀物质的原子序数越大，则X射线的强度也成正比的增大。
2、管电压的影响，x光束中最大光子能量等于高速电子的最大能量， 电子的最大能量又取决于管电压的峰值。所以管电压的波动也就改变了电子的最大能量，整个Ｘ光谱的形状也会随之发生变化。当管电流不变时， 随着管电压的升高，X光束中的高能成分增加。实际上X射线的强度与管电压的立方成正比。
3 、管电流的影响
管电流的变化并不影响X射线的质，但在管电压不变的情况下，管电流的大小影响X射线的强度，实际上，X射线强度与管电流成正比。管电流越大，X射线的强度越大，因此，在管电压一定的情况下，保证管电流的稳定也是很重要的。
３．合金成分变化对测量精度的影响
由X射线的衰减系数公式得到X射线的质量衰减系数入射的X射线的波长与被照射物质的原子序数有关。X射线穿过不同物质的衰减系数是不同的，因此待测带材合金成分的变化导致吸收系数发生变化，从而导致测量值与实际值之间存在偏差。此处合金成分的变化指的是待测带材与标准板之间合金成分的不同。
４．通过位置高度对测量精度的影响
由X射线与物质之间的相互作用可知，当X射线通过物质时， 由于光电作用和散射作用引起射线能量衰减。由于X射线穿过物质时发生的散射作用， 导致探测器检测到的X射线的强度与算出的射线强度之间存在误差。由探测器检测到的X射线包含两部分：一部分是垂直穿过物质的射线，另一部分为发生一定偏转角度后再进入探测器的X射线。由于发生散射的X射线的出射角不固定，而射线的出射角与被穿过物质的内部结构有关系。所以探测器的安装位置会影响其检测到的X射线的强度，当探测器离待测物质越近时，探测器接收到的射线强度就越大。在装有标样箱的X射线测厚仪中， 标定时标准板到探测器的距？比测量时待测物质到探测器的距离大， 探测器在測量时接收到的散射能量比标定时多，导致实际测量时接收到的射线强度比标定时接收到的射线强度弱，最终导致测量值比真实值偏小。
５．现场生产环境造成的影响
现场生产环境主要指的是油污等杂质对测量精度的影响。油污、乳制油等杂
质会飞濺到射线孔的膜片上，X射线穿过油污同样会发生衰减，就会导致测量值比真实值偏大。同时，在测量过程中，被测物体上可能会有附着物，比如水，油污或氧化物等，这些都会对X射线测厚仪测量精度造成影响，产生测量偏差。
